SKYLINE INSTRUMENTS CO.,LTD info@skylineinstruments.com 86-769-23830463
Productgegevens
Plaats van herkomst: China
Merknaam: SKYLINE
Certificering: CE
Modelnummer: De volgende categorieën zijn bedoeld:
Betalings- en verzendvoorwaarden
Min. bestelaantal: 1
Prijs: negoitable
Verpakking Details: platenkas
Levertijd: 25 werkdagen
Betalingscondities: T/T
Levering vermogen: 1 UNIT/MONTH
Model: |
QXD-25, QXD-50, QXD-100, QXD-150 |
buitenafmeting: |
170 × 50 × 12 mm (L × W × H) |
Meetbereik: |
025 μm, 050 μm, 100 μm, 150 μm |
Gewicht van het apparaat: |
2 kg |
Model: |
QXD-25, QXD-50, QXD-100, QXD-150 |
buitenafmeting: |
170 × 50 × 12 mm (L × W × H) |
Meetbereik: |
025 μm, 050 μm, 100 μm, 150 μm |
Gewicht van het apparaat: |
2 kg |
Gebruik:
De Scraper Fineness Meter wordt veel gebruikt voor het meten van de fijnheid van het slijpen van luchtverf,
vernis, drukinkt,enzovoort.En de fijngevoeligheid is meestal in micronen (μm).
Testnormen:
Dit apparaat is geschikt voor de nationale norm GB/T1724, GB/T13217.3 QB/T 1335.2-2000
Technische parameter:
1Model: QXD-25, QXD-50, QXD-100, QXD-150
2. Buitenafmeting: 170×50×12 mm (L×W×H)
3Metingsbereik: 025 μm, 050 μm, 100 μm, 150 μm
4Gewicht: 2 kg